Оптическая инспекция
Показать фильтры
Сортировать по:
До 19,5 мм
Вертикальный диапазон измерений, режим микрорельефа
До 10 мкм
Вертикальный диапазон измерений, режим нанорельефа
1 мкм
Вертикальное разрешение, режим микрорельефа
Светлое и темное поле (BF/DF)
Метод инспекции
От 250 нм
Минимальный обнаруживаемый размер дефекта
Полная поверхность пластины
Контроль поверхности
8 мкм
Минимальная длина проволоки
30 мкм
Минимальный диаметр шарикового контакта
40 мкм
Минимальный размер stitch-контакта