0
Манул Нанотроника — интерференционный микроскоп-нанопрофилометр

Манул Нанотроника — интерференционный микроскоп-нанопрофилометр

Интерференционный микроскоп-нанопрофилометр «Манул» предназначен для бесконтактного измерения рельефа поверхности, контроля покрытий, микродефектоскопии и нанометрологии. Прибор реализует два режима измерений: микро- и нанорельеф.

По результатам измерения система формирует восстановленную трехмерную модель профиля исследуемой области. Программное обеспечение позволяет выполнять линейные измерения по 3D-модели и обрабатывать полученные результаты.


Вертикальный диапазон измерений, режим микрорельефа:До 19,5 мм
Вертикальный диапазон измерений, режим нанорельефа:До 10 мкм
Вертикальное разрешение, режим микрорельефа:1 мкм
Запрос
Итоговая стоимость формируется после выбора конфигурации. Менеджер подберёт оптимальный вариант и назовёт точную цену.

Интерференционный микроскоп-нанопрофилометр «Манул» предназначен для бесконтактного измерения рельефа поверхности, контроля покрытий, микродефектоскопии и нанометрологии. Прибор реализует два режима измерений: микро- и нанорельеф.

По результатам измерения система формирует восстановленную трехмерную модель профиля исследуемой области. Программное обеспечение позволяет выполнять линейные измерения по 3D-модели и обрабатывать полученные результаты.


Вертикальный диапазон измерений, режим микрорельефа:До 19,5 мм
Вертикальный диапазон измерений, режим нанорельефа:До 10 мкм
Вертикальное разрешение, режим микрорельефа:1 мкм
Модели

Применение Манул Нанотроника — интерференционный микроскоп-нанопрофилометр

Результаты измерений


Пленка Pd на Si-материале, высота 100 нм

Сертифицированный калибр, номинальное значение, высота - 101 нм +3 %

Измерение шероховатости поверхности

Сертифицированный калибр, высота 40 мкм

Дефект на цилиндрической поверхности

Дифракционный оптический элемент: Линза Френселя


Особенности

·        Бесконтактное измерение микрорельефа и нанорельефа поверхности.
·        Вертикальное разрешение до 1 нм в режиме нанорельефа.
·        Формирование трехмерной реконструкции профиля поверхности.
·        Измерение толщины пленочных покрытий и параметров шероховатости.
·        Контроль микродефектов и исследование наноструктур.
·        Поддержка объективов 5×, 10× и 20×.
·        Максимальная площадь измерения 50 × 50 мм.


Области применения

·        Измерение толщины пленочных покрытий.
·        Контроль поверхности полимеров различного состава.
·        Измерение шероховатости поверхности.
·        Исследование наноструктур и наноматериалов.
·        Микродефектоскопия.
·        Нанометрология.
·        Контроль дифракционных оптических элементов и других прецизионных поверхностей.

Характеристики Манул Нанотроника — интерференционный микроскоп-нанопрофилометр

Название

Значение

Вертикальный диапазон измерений, режим микрорельефа

До 19,5 мм

Вертикальный диапазон измерений, режим нанорельефа

До 10 мкм

Вертикальное разрешение, режим микрорельефа

1 мкм

Вертикальное разрешение, режим нанорельефа

1 нм

Скорость измерений, режим микрорельефа

10 мкм/с

Скорость измерений, режим нанорельефа

0,5 мкм/с

Общая площадь измерения

50 × 50 мм

Поле измерения за одно сканирование

До 2,2 × 1,4 мм

Максимальная толщина образца

До 65 мм

Электропитание

220 В, 50 Гц

Объективы

5×, NA 0,15; 10×, NA 0,3; 20×, NA 0,45

Боковое разрешение при λ = 625 нм, объектив 5×

2,1 мкм

Боковое разрешение при λ = 625 нм, объектив 10×

1,1 мкм

Боковое разрешение при λ = 625 нм, объектив 20×

0,9 мкм

Возможность автоматизации с помощью собственного ПО: интеграция, автоматизация измерений, собственные база данных и VISA-мост.

СПОАИ — специальное программное обеспечение для автоматизации измерений, разработанное на мощностях "Акметрон" — отечественного разработчика программного обеспечения, производителя и крупнейшего поставщика оборудования с 2012 года.

Это клиент-серверное приложение с многопользовательской распределённой архитектурой, которое решает задачи повышения производительности труда на производстве, сокращения длительности измерений и снижения требований к квалификации персонала. ПО внесено в реестр Минцифры: №28145

Ключевые преимущества:

  • Полный цикл «под ключ»: от разработки до сопровождения
  • Клиент-серверная архитектура с самостоятельной переналадкой
  • Централизованный сбор и хранение результатов в БД с возможностью миграции в вашу БД
  • Генератор отчетов на основе ваших шаблонов (docx. и xlsx.)
  • Управление приборами с любым типом интерфейса
  • ПО работает на системах Windows, Linux, MacOS, доступна веб-версия

Результаты внедрений:

  • Непрерывная работа в автоматическом режиме до 48 часов
  • До 4 500 измерений за этап
  • Одновременное управление 15+ приборами
  • Автоматизация техтренировки и полной программы испытаний выпускаемых изделий — более 10 контролируемых приборов на одном рабочем месте, до 4 500 автоматизированных измерений в каждом этапе, непрерывная работа в автоматическом режиме 24–48 часов
  • Измерение радиотехнических характеристик приемопередающих модулей
  • Автоматизация тестирования фотонных интегральных схем
  • Контроль и испытания СВЧ-усилителей для космических аппаратов

Для каждого продукта мы предоставляем полный комплект документации: инструкция по установке с пошаговой настройкой, руководство по эксплуатации с описанием требований и рабочих процессов, презентация с обзором возможностей и кейсов внедрения.

Предоставим систему с учётом требований промышленных стандартов и рассчитанную на многолетнюю эксплуатацию. Также мы обеспечиваем соответствие отраслевым требованиям, надёжность архитектуры для критических систем и масштабируемость без потери стабильности.

Наши специалисты помогут вам решить самые сложные задачи по автоматизации, измерениям и интеграции

Рекомендуем посмотреть
sova-img
Сова Нанотроника — автоматическая система оптической инспекции пластин
Светлое и темное поле (BF/DF) Метод инспекции
От 250 нм Минимальный обнаруживаемый размер дефекта
Полная поверхность пластины Контроль поверхности
strizh-img
Стриж Нанотроника — автоматическая система 3D-инспекции проволочных соединений
8 мкм Минимальная длина проволоки
30 мкм Минимальный диаметр шарикового контакта
40 мкм Минимальный размер stitch-контакта

Мы используем файлы cookie

Мы используем cookie для корректной работы сайта, аналитики и улучшения пользовательского опыта. Подробнее об обработке данных — в Политике конфиденциальности.

Настройка cookie

Технические cookie нужны для стабильной работы. Аналитические и другие cookie помогают нам делать сайт лучше для вас: понимать, что вам интересно, и улучшать навигацию. Эти данные анонимны. Разрешая их, вы вносите свой вклад в развитие нашего сайта. Подробности в Политике обработки персональных данных.

Технические Cookie

Эти файлы cookie необходимы для правильной работы сайта и его основных функций (например, навигация, сохранение сессии, работа форм). Без них сайт не сможет функционировать должным образом. Они не собирают информацию для маркетинга или отслеживания. Этот тип cookie нельзя отключить.

Аналитические/Рекламные cookie

Эти файлы cookie позволяют нам собирать информацию о том, как посетители используют наш сайт (например, какие страницы посещают чаще, сколько времени проводят на сайте, возникают ли ошибки). Эта информация собирается в агрегированном или обезличенном виде и используется для анализа и улучшения работы сайта. Данные обрабатываются Яндекс.Метрикой согласно ее политике конфиденциальности (см. сайт Яндекса). Эти cookie активны только с вашего согласия.

Функциональные (остальные) cookie

Эти файлы cookie позволяют сайту запоминать сделанный вами выбор и предоставлять расширенные функции для вашего удобства. Они также могут использоваться для обеспечения работы встроенных на сайт сервисов (например, видеоплееров от Vimeo, виджетов социальных сетей VK), которые улучшают ваш опыт взаимодействия с сайтом. Эти сервисы могут устанавливать свои cookie для корректной работы и запоминания предпочтений. Эти cookie активны только с вашего согласия.

Настройка