0
Стриж Нанотроника — автоматическая система 3D-инспекции проволочных соединений

Стриж Нанотроника — автоматическая система 3D-инспекции проволочных соединений

Автоматическая система оптической 3D-инспекции «Стриж» предназначена для контроля проволочных соединений кристалл–подложка после операции wire bonding и до герметизации корпуса. Система формирует трехмерную модель проволочных соединений по серии изображений, полученных при различных положениях фокуса, и автоматически контролирует геометрию проволок, параметры шариковых контактов и межпроводниковые зазоры.

Решение применяется для оптимизации процесса монтажа кристаллов и повышения качества выпускаемых интегральных схем. Поддерживается контроль соединений из золота, серебра и меди на печатных платах и металлических лентах.


Минимальная длина проволоки:8 мкм
Минимальный диаметр шарикового контакта:30 мкм
Минимальный размер stitch-контакта:40 мкм
Запрос
Итоговая стоимость формируется после выбора конфигурации. Менеджер подберёт оптимальный вариант и назовёт точную цену.

Автоматическая система оптической 3D-инспекции «Стриж» предназначена для контроля проволочных соединений кристалл–подложка после операции wire bonding и до герметизации корпуса. Система формирует трехмерную модель проволочных соединений по серии изображений, полученных при различных положениях фокуса, и автоматически контролирует геометрию проволок, параметры шариковых контактов и межпроводниковые зазоры.

Решение применяется для оптимизации процесса монтажа кристаллов и повышения качества выпускаемых интегральных схем. Поддерживается контроль соединений из золота, серебра и меди на печатных платах и металлических лентах.


Минимальная длина проволоки:8 мкм
Минимальный диаметр шарикового контакта:30 мкм
Минимальный размер stitch-контакта:40 мкм
Модели

Автоматизированная система "Стриж" предназначена для 3D-контроля соединений проволоки после склеивания и перед упаковкой

Образец соединения чипа с подложкой

Образец изображения из программного обеспечения после проверки в BF

Образец изображения из программного обеспечения после проверки в DF



Технология 3D инспекции, основана на получении 3D модели провода через анализ множественных изображения с различными координационными центрами. После получения серии изображений участка провода с различными уровнями фокусировки строится карта высот: для каждой точки XY вычисляется координата Z (высота), после чего создается трехмерная карта поверхности проводов.
стриж-006.png

Особенности

·        Автоматизированная 3D-инспекция wire bonds перед корпусированием.
·        Построение карты высот и 3D-модели проволочных соединений.
·        Контроль высоты петли, длины, волнистости и целостности каждой проволоки.
·        Проверка размеров шарикового контакта и корректности пайки/сварки.
·        Измерение минимального расстояния между проволоками и выявление вероятных электрических замыканий.
·        Работа в режимах светлого и темного поля (BF/DF).
·        Камера разрешением 5120 × 4096 пикселей.


Области применения

·        Производство и контроль качества полупроводниковых приборов.
·        Контроль процесса монтажа кристалл–подложка.
·        Инспекция проволочных соединений в микроэлектронике и силовой электронике.
·        Входной, межоперационный и выходной контроль сборки микросхем.
·        Анализ дефектов wire bonding перед герметизацией корпусов.


Контролируемые параметры

·        Высота петли проволочного соединения.
·        Размеры шарикового контакта.
·        Длина каждой проволоки.
·        Обрыв проволоки.
·        Корректность соединения.
·        Волнистость и изгибы проволоки.
·        Минимальный зазор между проволоками.
·        Электрические замыкания между проволоками.
·        Трехмерная карта смонтированных проволочных соединений.




Название

Значение

Минимальная длина проволоки

8 мкм

Минимальный диаметр шарикового контакта

30 мкм

Минимальный размер stitch-контакта

40 мкм

Материал проволоки

Золото, серебро, медь

Тип подложки

Печатная плата, металлическая лента

Максимальная высота петли

2 мм

Точность измерения высоты петли

5 мкм

Точность измерения минимального расстояния между проволоками

7 мкм

Максимальный размер кристалла

25 × 25 мм

Поле зрения

4,4 × 3,3 мм

Разрешение системы

1,1 мкм/пиксель

Разрешение камеры

5120 × 4096 пикселей

Размер подложки кристалл–подложка

От 40 × 100 до 100 × 300 мм

Толщина подложки

0,1–2 мм

Электропитание

220 В, 50/60 Гц, 16 А

Давление сжатого воздуха

6 бар

Габаритные размеры (Д × Ш × В)

680 × 680 × 1700 мм

Возможность автоматизации с помощью собственного ПО: интеграция, автоматизация измерений, собственные база данных и VISA-мост.

СПОАИ — специальное программное обеспечение для автоматизации измерений, разработанное на мощностях "Акметрон" — отечественного разработчика программного обеспечения, производителя и крупнейшего поставщика оборудования с 2012 года.

Это клиент-серверное приложение с многопользовательской распределённой архитектурой, которое решает задачи повышения производительности труда на производстве, сокращения длительности измерений и снижения требований к квалификации персонала. ПО внесено в реестр Минцифры: №28145

Ключевые преимущества:

  • Полный цикл «под ключ»: от разработки до сопровождения
  • Клиент-серверная архитектура с самостоятельной переналадкой
  • Централизованный сбор и хранение результатов в БД с возможностью миграции в вашу БД
  • Генератор отчетов на основе ваших шаблонов (docx. и xlsx.)
  • Управление приборами с любым типом интерфейса
  • ПО работает на системах Windows, Linux, MacOS, доступна веб-версия

Результаты внедрений:

  • Непрерывная работа в автоматическом режиме до 48 часов
  • До 4 500 измерений за этап
  • Одновременное управление 15+ приборами
  • Автоматизация техтренировки и полной программы испытаний выпускаемых изделий — более 10 контролируемых приборов на одном рабочем месте, до 4 500 автоматизированных измерений в каждом этапе, непрерывная работа в автоматическом режиме 24–48 часов
  • Измерение радиотехнических характеристик приемопередающих модулей
  • Автоматизация тестирования фотонных интегральных схем
  • Контроль и испытания СВЧ-усилителей для космических аппаратов

Для каждого продукта мы предоставляем полный комплект документации: инструкция по установке с пошаговой настройкой, руководство по эксплуатации с описанием требований и рабочих процессов, презентация с обзором возможностей и кейсов внедрения.

Предоставим систему с учётом требований промышленных стандартов и рассчитанную на многолетнюю эксплуатацию. Также мы обеспечиваем соответствие отраслевым требованиям, надёжность архитектуры для критических систем и масштабируемость без потери стабильности.

Наши специалисты помогут вам решить самые сложные задачи по автоматизации, измерениям и интеграции

Рекомендуем посмотреть

manul-img
Манул Нанотроника — интерференционный микроскоп-нанопрофилометр
До 19,5 мм Вертикальный диапазон измерений, режим микрорельефа
До 10 мкм Вертикальный диапазон измерений, режим нанорельефа
1 мкм Вертикальное разрешение, режим микрорельефа
sova-img
Сова Нанотроника — автоматическая система оптической инспекции пластин
Светлое и темное поле (BF/DF) Метод инспекции
От 250 нм Минимальный обнаруживаемый размер дефекта
Полная поверхность пластины Контроль поверхности

Мы используем файлы cookie

Мы используем cookie для корректной работы сайта, аналитики и улучшения пользовательского опыта. Подробнее об обработке данных — в Политике конфиденциальности.

Настройка cookie

Технические cookie нужны для стабильной работы. Аналитические и другие cookie помогают нам делать сайт лучше для вас: понимать, что вам интересно, и улучшать навигацию. Эти данные анонимны. Разрешая их, вы вносите свой вклад в развитие нашего сайта. Подробности в Политике обработки персональных данных.

Технические Cookie

Эти файлы cookie необходимы для правильной работы сайта и его основных функций (например, навигация, сохранение сессии, работа форм). Без них сайт не сможет функционировать должным образом. Они не собирают информацию для маркетинга или отслеживания. Этот тип cookie нельзя отключить.

Аналитические/Рекламные cookie

Эти файлы cookie позволяют нам собирать информацию о том, как посетители используют наш сайт (например, какие страницы посещают чаще, сколько времени проводят на сайте, возникают ли ошибки). Эта информация собирается в агрегированном или обезличенном виде и используется для анализа и улучшения работы сайта. Данные обрабатываются Яндекс.Метрикой согласно ее политике конфиденциальности (см. сайт Яндекса). Эти cookie активны только с вашего согласия.

Функциональные (остальные) cookie

Эти файлы cookie позволяют сайту запоминать сделанный вами выбор и предоставлять расширенные функции для вашего удобства. Они также могут использоваться для обеспечения работы встроенных на сайт сервисов (например, видеоплееров от Vimeo, виджетов социальных сетей VK), которые улучшают ваш опыт взаимодействия с сайтом. Эти сервисы могут устанавливать свои cookie для корректной работы и запоминания предпочтений. Эти cookie активны только с вашего согласия.

Настройка