Задача:

заказчик проектирует и тестирует опытные образцы различных полупроводниковых приборов на кремниевых пластинах. Для подтверждения заявленных параметров разрабатываемых устройств необходимо измерять ВАХ и ВФХ как корпусированных образцов, так и устройств непосредственно на полупроводниковых пластинах.

Система:

мы предложили аппаратно-программный комплекс на базе параметрического анализатора FS-Pro, который объединяет в себе возможности для выполнения измерений и анализа, обеспечивает точное и быстрое определение характеристик полупроводниковых устройств.
Анализатор поддерживает выполнение таких типов измерений, как измерение вольт-амперных характеристик (ВАХ), вольт-фарадных характеристик (ВФХ), измерения высокоскоростных импульсных ВАХ, измерения во временной области и т.д.

Наше решение:

измерительный комплекс позволяет исследователю измерять весь набор характеристик для определения параметров исследуемых полупроводниковых приборов.

Преимущества нашего решения:

масштабируемость, многоканальность, возможность программирования и подключения к различным типам зондовых станций.