ПАК для измерений параметров ПП устройств с переменным импедансом
Программно-аппаратный комплекс для измерений параметров полупроводниковых устройств с переменным импедансом нагрузки до 40 ГГц с возможностью проведения экстракции компактных и поведенческих моделей.
Задача: создание современной лаборатории для сложных измерений параметров полупроводниковых устройств с переменным импедансом.
Система: на базе тюнеров, импульсной системы питания и ПО.
Решение: данная система "под ключ" решает все текущие задачи заказчика по измерениям транзисторов.
Преимущества нашего решения: наличие в составе системы дельта-тюнеров, которые в последствии могут использоваться с зондовой станцией, покупка которой также запланирована заказчиком. Кроме того, заказчик уже по достоинству и высоко оценил качество измерений, получаемых на поставленной системе.
