Система измерения параметров полупроводниковых устройств с переменной

Задача: заказчик проектирует и тестирует транзисторы и усилители на полупроводниковых пластинах из нитрида галлия. Для получения заданных характеристик усилителя необходимо проводить измерения по методу оптимизации нагрузки с учетом настройки импеданса гармоник.

Система: мы предложили аппаратно-программный комплекс на базе зондовой станции, тюнера импеданса источника фундаментальной частоты, мультигармонического тюнера нагрузки, импульсной системы питания и программного пакета для экстракции компактных моделей.

Наше решение: измерительный комплекс позволяет исследователю измерять весь набор характеристик для определения параметров исследуемых полупроводниковых приборов и строить компактные модели транзисторов и усилителей.

Преимущества нашего решения: автоматизация измерений, удобство подключения к различным типам зондовых станций, повышенная точность производимых измерений.