Задача:

тестирование на уровне пластины устройств интегральной фотоники.

Система:

полуавтоматическая зондовая станция с возможностью проведения измерений при температурах до +200° С, а также измерительное оборудование: анализатор оптических компонентов, широкополосный осциллограф, генератор сигналов произвольной формы.

Преимущества нашего решения:

автоматическая прецизионная юстировка световодов по шести осям для сокращения времени тестирования, возможность тестирования оптических компонентов с вертикальным и торцевым вводом излучения, возможность тестирования чипов и решеток, возможность одновременного тестирования компонентов в оптическом и СВЧ диапазонах.