Задача:
тестирование на уровне пластины устройств интегральной фотоники.
Система:
полуавтоматическая зондовая станция с возможностью проведения измерений при температурах до +200° С, а также измерительное оборудование: анализатор оптических компонентов, широкополосный осциллограф, генератор сигналов произвольной формы.
Преимущества нашего решения:
автоматическая прецизионная юстировка световодов по шести осям для сокращения времени тестирования, возможность тестирования оптических компонентов с вертикальным и торцевым вводом излучения, возможность тестирования чипов и решеток, возможность одновременного тестирования компонентов в оптическом и СВЧ диапазонах.