Система оптимизации нагрузки полупроводниковых устройств на пластине
Реализованный проект АКМЕТРОН для измерения параметров транзисторов на пластине на базе зондовой станции.
Задача:
заказчик обратился в Демо-лабораторию АКМЕТРОН для проведения оптимизации нагрузки полупроводниковых устройств на пластине c учетом настройки импеданса гармоник.Собранный под задачи заказчика измерительный стенд включал:
• базовый блок импульсной системы питания AU5;
• блок формирования третьего режима Tri-state;
• зонд затвора TPG20 / зонд стока TPHG220-2;
• многоканальный модульный источник питания N6700C;
• источник питания постоянного тока N5751A (2 шт.);
• цифровой мультиметр 34461A;
• векторный анализатор цепей N5247B;
• автоматический импедансный тюнер C-67100;
• автоматический мультигармонический импедансный тюнер;
• USB измеритель мощности U8488A;
• ручная зондовая станция TS200 с зондами T67;
• механический калибровочный комплект 85056D;
• калибровочная пластина AC-2;
• набор калибровочных мер сопротивлений.
Характеристики и технические возможности стенда:
• тип доступных измерений: Load-pull, ВАХ и S-параметры в импульсном режиме;
• тип доступных моделей: поведенческие и компактные модели;
• тип испытуемых устройств: биполярные и полевые транзисторы на полупроводниковой пластине;
• тип конфигурации Load-pull: пассивная или гибридная;
• максимальный диаметр испытуемой пластины: 200 мм;
• конфигураций зондов: GSG с расстоянием между контактами 150 мкм;
• диапазон рабочих частот: от 10 ГГц до 50 ГГц.
