ПАК для измерений параметров ПП устройств с переменным импедансом нагрузки до 40 ГГц
Программно-аппаратный комплекс для измерений параметров полупроводниковых устройств с переменным импедансом нагрузки до 40 ГГц с возможностью проведения экстракции компактных и поведенческих моделей.
Задача:
создание современной лаборатории для сложных измерений параметров полупроводниковых устройств с переменным импедансом.Система:
на базе тюнеров, импульсной системы питания и ПО.Решение:
данная система "под ключ" решает все текущие задачи заказчика по измерениям транзисторов.Преимущества нашего решения:
наличие в составе системы дельта-тюнеров, которые в последствии могут использоваться с зондовой станцией, покупка которой также запланирована заказчиком. Кроме того, заказчик уже по достоинству и высоко оценил качество измерений, получаемых на поставленной системе.
