Keysight (IXIA): Анализаторы цепей серии PNA-X
Сортировать по:
Госреестр 
Универсальные приборы для измерений параметров ВЧ-устройств
Приборы серии PNA-X — это векторные анализаторы цепей, обладающие универсальной и гибкой аппаратной платформой для измерения параметров активных устройств СВЧ-диапазона, таких как усилители, смесители и преобразователи частоты. Анализаторы цепей серии PNA-X разработаны специально для:
- производителей полупроводниковых приборов и разработчиков информационных cистем;
- разработчиков усилителей мощности базовых станций;
- разработчиков активных компонентов;
- научно-исследовательских центров и университетов.
Аппаратное обеспечение включает в себя два встроенных источника сигналов в сочетании с сумматором, приемники для измерения S-параметров и коэффициента шума, модуляторы и генераторы импульсов, а также гибкий набор коммутаторов и доступ к внутренним ВЧ-трактам анализатора. Эти аппаратные функции обеспечивают эффективные возможности для выполнения широкого спектра линейных и нелинейных измерений, которые могут быть выполнены всего за одно подключение тестируемого устройства (ТУ).
Основные характеристики анализаторов цепей Keysight серии PNA-X:
- Диапазон рабочих частот: от 10 МГц до 67 ГГц (расширение диапазона частот вниз до 900 Гц доступно в моделях N5242B/45B/47B)
- Динамический диапазон: от 124 до 129 дБ
- Выходная мощность: 13 дБм
- Встроенные порты: 2 или 4
- Время развертки: от 5,5 до 9,7 мс
Один измерительный прибор заменяет целую стойку c оборудованием
По своим функциональным возможностям один анализатор PNA-X может заменить следующие измерительные приборы:
- анализатор цепей;
- анализатор спектра;
- два генератора сигналов;
- измеритель/анализатор коэффициента шума;
- измерители мощности;
- матричный коммутатор;
- цифровой вольтметр.
Технология векторного анализа цепей вплоть до нанометрового диапазона
Векторные анализаторы цепей серии PNA-X совместимы со следующими измерительными решениями компании Keysight:
- программное обеспечение для систем тестирования на физическом уровне (PLTS), позволяющее выполнять калибровку, измерения и анализ параметров линейных пассивных внутрисхемных соединений.
- оборудование и измерительные принадлежности для исследования параметров материалов
- сканирующий СВЧ-микроскоп для создания мощной и уникальной комбинированной установки, предназначенной для измерений профиля калиброванных емкостей и распределения легирующих примесей в нанометровом диапазоне.