Серия PNA-X

Сортировать по:
Цене Обновлению
N5241B
N5241B
В наличии

Высокопроизводительный анализатор цепей серии PNA-X с диапазоном рабочих частот от 10 МГц до 13,5 ГГц.

N5242B
N5242B
Под заказ

Высокопроизводительный анализатор цепей серии PNA-X с диапазоном рабочих частот от 10 МГц до 26,5 ГГц.

N5244BM
N5244BM
Под заказ

Решения для измерения характеристик усилителей сигнала приложений 5G на базе анализатора цепей серии PNA-X.

N5244B
N5244B
Под заказ

Высокопроизводительный анализатор цепей серии PNA-X с диапазоном рабочих частот от 10 МГц до 43,5 ГГц.

N5245BV
N5245BV
Под заказ

Решение для определения характеристик усилителей с широкополосным модулированным сигналом на базе анализатора цепей серии PNA-X.

N5245BQ
N5245BQ
Под заказ

Решение для получения характеристик преобразователей частоты с широкополосным модулированным сигналом на базе анализатора цепей серии PNA-X.

N5245BP
N5245BP
Под заказ

Решение для тестирования преобразователей частоты в диапазоне до 50 ГГц на базе анализатора цепей серии PNA-X.

N5245BM
N5245BM
Под заказ

Решение для измерения характеристик усилителей сигнала в диапазоне до 50 ГГц для приложений 5G на базе анализатора цепей серии PNA-X.

N5245B
N5245B
Под заказ

Высокопроизводительный анализатор цепей серии PNA-X с диапазоном рабочих частот от 10 МГц до 50 ГГц.

N5247BM
N5247BM
Под заказ

Решение для измерения характеристик усилителей сигнала в диапазоне до 67 ГГц на базе анализатора цепей серии PNA-X.

Хит
N5247B
N5247B
Под заказ

Высокопроизводительный анализатор цепей серии PNA-X с диапазоном рабочих частот от 10 МГц до 67 ГГц.

N5249B
N5249B
Под заказ

Высокопроизводительный анализатор цепей серии PNA-X с диапазоном рабочих частот от 10 МГц до 8,5 ГГц.

N5264B
N5264B
Под заказ

Измерительный приемник для тестирования антенн в диапазоне частот до 13 ГГц.

Универсальные приборы для измерений параметров ВЧ-устройств

Приборы серии PNA-X — это векторные анализаторы цепей, обладающие универсальной и гибкой аппаратной платформой для измерения параметров активных устройств СВЧ-диапазона, таких как усилители, смесители и преобразователи частоты. Анализаторы цепей серии PNA-X разработаны специально для:

  • производителей полупроводниковых приборов и разработчиков информационных cистем;
  • разработчиков усилителей мощности базовых станций;
  • разработчиков активных компонентов;
  • научно-исследовательских центров и университетов.

Аппаратное обеспечение включает в себя два встроенных источника сигналов в сочетании с сумматором, приемники для измерения S-параметров и коэффициента шума, модуляторы и генераторы импульсов, а также гибкий набор коммутаторов и доступ к внутренним ВЧ-трактам анализатора. Эти аппаратные функции обеспечивают эффективные возможности для выполнения широкого спектра линейных и нелинейных измерений, которые могут быть выполнены всего за одно подключение тестируемого устройства (ТУ).

Основные характеристики анализаторов цепей Keysight серии PNA-X:

  • Диапазон рабочих частот: от 10 МГц до 67 ГГц (расширение диапазона частот вниз до 900 Гц доступно в моделях N5242B/45B/47B)
  • Динамический диапазон: от 124 до 129 дБ
  • Выходная мощность: 13 дБм
  • Встроенные порты: 2 или 4
  • Время развертки: от 5,5 до 9,7 мс

Один измерительный прибор заменяет целую стойку c оборудованием

По своим функциональным возможностям один анализатор PNA-X может заменить следующие измерительные приборы:

  • анализатор цепей;
  • анализатор спектра;
  • два генератора сигналов;
  • измеритель/анализатор коэффициента шума;
  • измерители мощности;
  • матричный коммутатор;
  • цифровой вольтметр.

Технология векторного анализа цепей вплоть до нанометрового диапазона

Векторные анализаторы цепей серии PNA-X совместимы со следующими измерительными решениями компании Keysight:

  • программное обеспечение для систем тестирования на физическом уровне (PLTS), позволяющее выполнять калибровку, измерения и анализ параметров линейных пассивных внутрисхемных соединений.
  • оборудование и измерительные принадлежности для исследования параметров материалов
  • сканирующий СВЧ-микроскоп для создания мощной и уникальной комбинированной установки, предназначенной для измерений профиля калиброванных емкостей и распределения легирующих примесей в нанометровом диапазоне.