Создание шумовых моделей электронных устройств

Определение шумовых параметров малошумящих устройств является крайне необходимой задачей для многих инженеров, занимающихся разработкой СВЧ-устройств. Заказчикам требуются точные характеристики шумовых параметров изделий, которые они покупают, а разработчики должны понимать природу эффектов шума для максимального улучшения характеристик своих изделий.

Наиболее распространённым является измерение коэффициента шума, но этого параметра не всегда бывает достаточно. Измерение коэффициента шума широко используется при проведении производственных испытаний, но его недостаточно для разработчиков схем и систем, которым необходимо знать, как усовершенствовать и оптимизировать свои проектные решения для достижения их наилучших характеристик.

Структурная схема тестовой установки для экстракции шумовых параметров.

В прошлом измерение шумовых параметров для разработчиков схем и систем не представлялось возможным; оборудование было слишком специализированным, и для проведения измерений требовалось слишком много времени, которое зачастую исчислялось днями. При использовании векторного анализатора цепей серии PNA-X и только одного тюнера импеданса, используемого в качестве дополнительного устройства, полное измерение шумовых параметров становится реальным, быстрым и таким же простым, как измерение S-параметров (например, измерение шумовых параметров в диапазоне частот от 8 ГГц до 12 ГГц при 25 состояниях импеданса занимает 2 минуты). За счёт этого обеспечивается возможность оптимизировать характеристики разрабатываемых изделий и нормировать их, задавая более жёсткие допуски, в соответствии с требованиями заказчиков.