Компания «Акметрон» предлагает услуги проведения измерений на заказ. Данная услуга может быть востребована в том случае, когда необходимо разовое использование дорогостоящего оборудования или экспертное сопровождение измерений специалистами.

Измерения проводятся в офисе компании «Акметрон» или с выездом к заказичку.

Измерения с использованием осциллографов

С использованием самых современных осциллографов доступны следующие измерения и испытания:

  • Анализ последовательных потоков данных;
  • Тестирование источников и цепей питания, интегральных схем;
  • Тестирование импульсных источников питания (анализ входных цепей, коммутирующих устройств и выходных сигналов, коэффициента подавления пульсаций);
  • Тестирование отраслевых протоколов передачи (CAN и т.д.)
  • Тестирование на соответствие стандартам USB, Ethernet, C-PHY, D-PHY;
  • Анализ целостности сигналов;
  • Анализ фазовых шумов;
  • Коррекция и анализ перекрёстных помех (высокоскоростные сигналы);
  • Анализ сигналов PAM-3, PAM-4;

При анализе возможна постобработка полученных данных (построение следящих графиков, трендов, гистограмм изменения параметров сигнала

Испытания с использованием логических анализаторов

Тестирование цифровых систем как на логическом, так и на протокольном уровне, декодирование и оценка принимаемой информации c возможностью подключения до 136 каналов.

Измерения с использованием векторных анализаторов цепей

С использованием самых современных векторных анализаторов и дополнительного оборудования, также имеющегося в лаборатории «Акметрон», для заказчиков доступны следующие измерения.

  • Измерение параметров фильтров (АЧХ, ФЧХ, КСВН, ГВЗ, анализ во временной области);
  • Измерение параметров антенно-фидерных устройств (КСВН, анализ во временной области);
  • Измерение параметров усилителей мощности (коэффициент усиления, КСВН, S-параметры в горячем режиме, анализ стабильности, панорамные измерения интермодуляционных искажений, панорамные измерения точки компрессии, уровень гармоник, EVM, ACPR);
  • Измерение параметров МШУ (коэффициент усиления, КСВН, панорамные измерения интермодуляционных искажений, панорамные измерения точки компрессии, измерение коэффициента шума и шумовых параметров);
  • Измерение параметров преобразователей частоты со встроенным и внешним гетеродином (коэффициент преобразования, ФЧХ, ГВЗ, КСВН, панорамные измерения интермодуляционных искажений, панорамные измерения точки компрессии, измерение коэффициента шума);
  • Измерение параметров высокоскоростных шин передачи данных (расширенный анализ во временной области, измерение S-параметров в дифференциальном режиме);
  • Измерение параметров полупроводниковых устройств на пластине (S-параметры, шумовые параметры, измерение ВАХ и S-параметров в импульсном режиме, измерения с переменным импедансом нагрузки, NVNA измерения);
  • Измерение параметров диэлектрических и магнитных материалов (измерение методом свободного пространства, измерение методом линии передачи, измерение методом коаксиального пробника).

Испытания с использованием анализаторов сигналов

Наличие большого количества генераторов и анализаторов сигналов позволяет эффективно проводить:

  • Анализ сигналов с цифровой модуляцией (EVM, ACPR, диаграмма созвездия, SNR);
  • Анализ сигналов с аналоговой модуляцией;
  • Анализ импульсных последовательностей с внутриимпульсной модуляцией; 
  • Измерение коэффициента шума МШУ и преобразователей частоты;
  • Измерения ЭМП на соответствие стандартов CISPR 16-1-1и MIL-STD-461;
  • Анализ нестационарных сигналов в режиме реального времени;
  • Анализ сигналов беспроводных стандартов связи (LTE, LTE-A, 5G NR, NB-IoT);
  • Измерение абсолютного фазового шума источников сигналов в непрерывном и импульсном режимах;
  • Измерение вносимого фазового шума двух портовых устройств в непрерывном и импульсном режимах;
  • Формирование тестовых сигналов для проверки ГНСС приемников;
  • Тестирование аналоговых и цифровых радиостанций на сигнальном уровне;
  • Анализ и формирование сверхширокополосных сигналов для тестирования приёмников РЛС и спутников систем связи.

Измерения с использованием параметрических анализаторов и анализаторов импеданса

  • Измерение ВАХ и ВФХ устройств;
  • Измерение импеданса SMD компонентов;
  • Измерение параметров диэлектрических и магнитных материалов методом параллельных пластин.
Обратная связь
Отправляя сведения через электронную форму, вы даете согласие на обработку, сбор, хранение и передачу третьим лицам представленной Вами информации на условиях Политики конфиденциальности.