Поиск неисправностей на платах и микросхемах - сигнатурные анализаторы
Представляем разработку нашего партнера ЦИФ МГУ - сигнатурные анализаторы для выявления неисправностей на платах и микросхемах.
ЦИФ МГУ (Центр инженерной физики при МГУ имени М.В. Ломоносова) разрабатывает сложную электронику и интеллектуальное ПО, занимается наукоемкими проектами в сфере робототехники, управления движением, автоматизирует экспериментальные установки в лазерной физике и физике высоких энергий, создает системы тестирования печатных плат и пр.
Перспективная разработка ЦИФ МГУ, выпускаемая под брендом EyePoint - сигнатурные анализаторы для обнаружения неисправностей компонентов на печатных платах и микросхемах.
В основе разработки заложен метод аналогового сигнатурного анализа (АСА) - сравнения вольт-амперных характеристик исследуемой платы/микросхемы с характеристиками эталонной. Метод является безопасным - он не повреждает электрические цепи и компоненты, т.к. для анализа не требуется подача питания на элементы.
Подходит для тестирования цепей и с пассивными, и с активными компонентами, позволяет быстро выявить контрафактные, перемаркированные или поврежденные электронные компоненты, определить возможные неисправности, в том числе разрывы цепи, непропай, разрушение защитных диодов от статического электричества, повреждение входных/выходных транзисторов, а также получить полный перечень дефектов электронных компонентов для работы пользователя.
Алгоритм работы сигнатурных анализаторов:
Подробнее о сигнатурных анализаторах - в каталоге АКМЕТРОН.