Итоги конференции-практикума по микроэлектронике в МИЭТ

Итоги конференции-практикума по микроэлектронике в МИЭТ

11 апреля 2024 года состоялась конференция по измерениям в микроэлектронике, организованная АО "АКМЕТРОН" при содействии Института интегральной электроники имени академика К.А. Валиева (МИЭТ).

Мероприятие вызвало большой интерес у специалистов отрасли: в конференции приняли участие более 50 инженеров предприятий радиоэлектронной промышленности.

В рамках докладов были представлены новейшие разработки оборудования и систем измерений в микроэлектронике.

Во второй части инженеры "АКМЕТРОН" провели практикум по контрольно-измерительному оборудованию, который вызвал самый большой интерес участников конференции.

Фотоотчет конференции "

Измерительные решения для микроэлектроники"

8 МИЭТ.jpg  4 МИЭТ.jpg

3 МИЭТ.jpg  24 МИЭТ.jpg

23 МИЭТ.jpg  12 МИЭТ.jpg

21 МИЭТ.jpg  15 МИЭТ.jpg

20 МИЭТ.jpg  11 МИЭТ.jpg

14 МИЭТ.jpg  17 МИЭТ.jpg

7 МИЭТ.jpg  19 МИЭТ.jpg  2 МИЭТ.jpg

Возврат к списку