Итоги конференции-практикума по микроэлектронике в МИЭТ
11 апреля 2024 года состоялась конференция по измерениям в микроэлектронике, организованная АО "АКМЕТРОН" при содействии Института интегральной электроники имени академика К.А. Валиева (МИЭТ).
Мероприятие вызвало большой интерес у специалистов отрасли: в конференции приняли участие более 50 инженеров предприятий радиоэлектронной промышленности.
В рамках докладов были представлены новейшие разработки оборудования и систем измерений в микроэлектронике.
Во второй части инженеры "АКМЕТРОН" провели практикум по контрольно-измерительному оборудованию, который вызвал самый большой интерес участников конференции.
Фотоотчет конференции "Измерительные решения для микроэлектроники"
Мероприятие вызвало большой интерес у специалистов отрасли: в конференции приняли участие более 50 инженеров предприятий радиоэлектронной промышленности.
В рамках докладов были представлены новейшие разработки оборудования и систем измерений в микроэлектронике.
Во второй части инженеры "АКМЕТРОН" провели практикум по контрольно-измерительному оборудованию, который вызвал самый большой интерес участников конференции.
Фотоотчет конференции "Измерительные решения для микроэлектроники"