Демо-фонд АКМЕТРОН: Кейсайт, R&S, Rigol и другие приборы для измерений на аутсорс

05.04.2023

Демо-лаборатория АКМЕТРОН располагает большим фондом измерительного оборудования, в том числе и редкого, которое уже не поставляется в Россию.
В лаборатории наши инженеры проведут для Вас демонстрацию приборов и расскажут о правилах работы с ними, а также помогут решить Ваши измерительные задачи в широком частотном диапазоне.

В нашем демо-фонде представлены анализаторы цепей, осциллографы, анализаторы спектра (в том числе оптический), генераторы сигналов, частотомеры, усилители мощности, зондовая станция и другие приборы ключевых брендов: Кейсайт, R&S, Rigol, Dorf, Планар, МПИ, Сиер и т.п.

Измерительный стенд Ceyear

Какие измерения можно осуществить в лаборатории АКМЕТРОН:

Измерение параметров фильтров (АЧХ, ФЧХ, КСВН, ГВЗ, анализ во временной области);
Измерение параметров антенно-фидерных устройств (КСВН, анализ во временной области);
Измерение параметров усилителей мощности (коэффициент усиления, КСВН, S-параметры, панорамные измерения интермодуляционных искажений, панорамные измерения точки компрессии);
Измерение параметров МШУ (коэффициент усиления, коэффициент шума);
Измерение параметров полупроводниковых устройств на пластине;
Измерение ВАХ полупроводниковых устройств в импульсном режиме;
Формирование и анализ сигналов с аналоговой модуляцией;
Формирование и анализ сигналов с цифровой модуляцией (EVM, ACPR, диаграмма созвездия и т.д.);
Анализ нестационарных сигналов в режиме реального времени;
Измерение абсолютного фазового шума источников сигналов в непрерывном режиме;
Анализ и формирование сверхширокополосных сигналов для тестирования приёмников РЛС и спутниковых систем связи;
Формирование и анализ импульсных последовательностей с внутриимпульсной модуляцией;
Декодирование и анализ шин RS232/UART, I2C, SPI, CAN, CAN-FD, LIN, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553;
Анализ целостности цифровых сигналов (анализ джиттера и построение глазковых диаграмм);
Измерение непрерывной и пиковой мощности сигналов, измерения частоты;
Анализ спектра источников оптического излучения.