Заказать звонок
×
Обязательны для заполнения поля
ФИО и название организации

Отправляя сведения через электронную форму, вы даете согласие на обработку, сбор, хранение и передачу третьим лицам представленной Вами информации на условиях Политики конфиденциальности.

Сервисный запрос
×

Отправляя сведения через электронную форму, вы даете согласие на обработку, сбор, хранение и передачу третьим лицам представленной Вами информации на условиях Политики конфиденциальности.

Меню
Москва
+7(495) 252-00-96
Санкт-Петербург
+7(905) 266-08-66
Казань
+7(903) 268-72-01
Москва +7(495) 252-00-96
Санкт-Петербург +7(905) 266-08-66
Казань +7(903) 268-72-01
Генератор произвольной формы М8190A
Посмотреть
x
БЭК на рабочем столе
Посмотреть
x
© 2019 Акметрон.
Все права защищены.
Каталог
+7(495) 252-00-96
Закрыть
Keysight Technologies
Анализаторы спектра
Генераторы сигналов
Осциллографы
Анализаторы цепей
Источники питания постоянного тока
Анализаторы формы сигнала тока
Измерители LCR и приборы для измерения импеданса
Параметрические анализаторы полупроводниковых приборов
Приборы в формате PXI
Приборы в формате AXIe
Системы сбора данных (DAQ)
Приборы и решения на базе шины USB
Приборы в формате VXI
Типовые решения на базе модульных приборов
ETS Lindgren
Испытательные комплексы
Камеры
Испытательные камеры GTEM
РЧ экранирование
Оборудование, ПО и материалы
MPI Corporation
MPI Зондовые станции
Зондовые головки MPI
Микропозиционеры MPI
Maury Microwave
Guildline Instruments
Тераомметры
Мосты-компараторы
Расширители диапазона/источники тока
Шунты измерительные постоянного тока
САПРы
Моделирование ПП устройств
Проектирование ВЧ,СВЧ и высокоскоростных цифровых ЭУ
Проектирование ЭУ на системном уровне
Электромагнитное 3D моделирование
Склад
Генераторы сигналов
Осциллографы
Другое
Система сбора данных
Частомеры
Анализаторы цепей
Шасси
Кабель
Анализаторы спектра
Мультиметры
Решения
ПО
Кабельные сборки Maury
EMSCAN
Платформа коммутации
Делители мощности
Аттенюаторы
Источник шума
Адаптеры
Переход коаксиальный
Измеритель мощности
Ответвители
Коннектор
Источник питания
Контроллер
СВЧ-переключатель
СВЧ-усилитель
Аппаратный ключ
Программное обеспечение
Скард
СВЧ изделия
Антенны
Зеркальные системы и облучатели
Антенные системы и комплекты
Антенные зонды
Радиоприемные устройства
Главная /Новости/Х – параметры

Х – параметры

cal 10 августа 2016


Специалистами компаний АО «Акметрон» и АО «Всероссийский НИИ радиотехники» была проведена серия измерений Х - параметров мощного СВЧ усилителя S – диапазона на LDMOS – транзисторе компании NXP Semiconductors. 


X-параметры представляют собой математически точное расширение S-параметров для больших сигналов. На основе этих параметров испытываемое устройство можно представить в виде «черного ящика», коэффициенты которого определяются на основе простого набора физических измерений параметров этого устройства. X-параметры позволяют рассматривать испытываемое устройство как «черный ящик» с полностью нелинейными характеристиками, у которого измеряются амплитуда и фаза для основной частоты и гармоник. В процессе моделирования «черные ящики» можно каскадировать для точного определения поведения компонентов при отсутствии согласования.


Тестовая установка включала в себя векторный анализатор цепей PNA – X с программным обеспечением нелинейного векторного анализа (NVNA) компании Keysight Technologies, тюнер импеданса компании Maury Microwave с программным обеспечением IVCAD и внешние СВЧ компоненты. Выходная мощность тестируемых усилителей составляла 40 Вт в импульсном режиме со скважностью 5. В измерениях применялась процедура Load pull, представляющая из себя перебор значений импеданса нагрузки в заданном диапазоне на диаграмме Вольперта - Смита. Load pull позволяет находить оптимальные импедансы нагрузки для получения требуемых характеристик усилителя мощности (выходная мощность, КПД и др). Измерение происходило до 3-ей гармоники включительно. Задавался диапазон входных мощностей от 20 дБм до 33 дБм с шагом 1 дБ.

В результате измерений был получен файл Х – параметров. Этот файл используется в САПР Keysight ADS для последующего компьютерного моделирования, позволяя разрабатывать модели активных устройств с учетом их нелинейных характеристик и с возможностью каскадирования. Также опубликована статья «Методика измерений Х – параметров мощного СВЧ усилителя S – диапазона» в сборнике Пятой всероссийской конференции «Электроника и микроэлектроника СВЧ» Том 1, стр. 42 – 45.