Практическое использование сканеров Y.I.C. Technologies - АКМЕТРОН
Место проведения:Дата проведения:16 февраля 2021Старт:14-00
Будут рассмотрены спектральные и пространственные сканирования, определение пиков, 2D/3D представления результатов, а также специальный режим сканирования «interleaved scan» – полезный и эффективный инструмент для сканирования в высоком разрешении.