200 мм автоматизированная зондовая станция. Специализированная система для СВЧ-измерений, измерений типа Load Pull и оптических приложений.

Полуавтоматическая зондовая станция для пластин 200 мм.

Полуавтоматическая зондовая станция с защитным кожухом для тестирования пластин 200 мм со светочувствительными элементами

Полуавтоматическая зондовая станция с защитным кожухом для тестирования пластин силовой электроники 200 мм.

Полуавтоматическая зондовая станция с системой защиты от электромагнитных помех и света для пластин 200 мм.

Полуавтоматическая зондовая станция TS2000-HP от МПИ обеспечивает надежные измерения параметров полупроводниковых устройств большой мощности в широком диапазоне температур до 3 кВ/10 кВ (триаксиальное/коаксиальное подключение) и 600 А (в импульсе).

Основные возможности:

• Предназначена для характеризации силовых устройств
• Для тестирования устройств на пластине до 10кВ и 600А в импульсном режиме
• Позолоченное покрытие держателя пластин и вакуумные ходы оптимизированные для тонких пластин до 50 мкм
• Опция для пластин Taiko
• Высоковольтные зондовые головки и высокоамперные иглы
• Решения от пробоя и образования электрической дуги
• Камера ShieldEnvironment для точных измерений
• Сконструирована для защиты ЭМИ и света
• Низка утечка тока
• Для температурных диапазонов от -60°C до +300 °C
• Передняя ручная и боковая автоматическая загрузка пластины с возможностью выравнивания
• Блокируемая защита от света, защищающая пользователя
• Встроенная антивибрационная изоляция
• Полностью встроенный контроллер зондовой.

Полуавтоматическая зондовая станция для пластин диаметром 300 мм специально разработанная для тестирования устройств, выполненных по технологии кремниевой фотоники.

Основные возможности:

• Высокоточные системы выравнивания оптоволокон с максимальной гибкостью для одиночных оптоволокон или массивов оптоволокон в двух- или однопозиционной установке
• Безопасная операция обнаружения оптоволокон при их сближении и предотвращение их столкновения
• Рекомендуемая температура испытания устройств в температурном диапазоне: -40… 100 °C
• Зондовая станция имеет возможность тестирования в температурном диапазоне -60… 300 °C
• Минимизация занимаемой площади системы за счет интеграции дополнительных измерительных инструментов для технологии кремниевой фотоники на специальной стойке для инструментов.

Автоматизированная зондовая станция для пластин диаметром 300 мм, специально разработанная для тестирования устройств, выполненных по технологии кремниевой фотоники.

Полуавтоматическая зондовая станция с системой защиты от электромагнитных помех и света для пластин 300 мм.
TS3000-SE является следующей версией зондовой станции TS3000 и оснащена специальной камерой ShielDEnvironment™ для исключения влияние внешних шумов и проведения высокоточных, воспроизводимых измерений DC/CV, фликкер-шума (1/f), случайного телеграфного шума и параметров в СВЧ-диапазоне для характеризации устройства, определения надежности на этапе пластины и СВЧ-применений.

Уникальная конструкция столешницы зондовой станции с активным охлаждением обеспечивает максимальную стабильность при проведении измерений в широком диапазоне температур от -60° до 300°C и делает зондовую станцию TS3000-SE отличным выбором для тестирования устройств при разных температурных условиях.

В станции TS3000-SE реализованы передовые технологии МПИ, такие как контроль расстояния между иглами и пластиной PHC™ (стандартная функция), ручное управления положением держателя пластин/микроскопа/манипуляторов mDrive™ и/или вертикальная камера VCE™ (опционально или в качестве модернизации на стороне заказчика).

Полуавтоматическая зондовая станция для тестирования мощных полупроводниковых устройств на пластинах 300 мм.

Полуавтоматическая зондовая станция для пластин 300 мм для проведения RF и mmW измерений, анализа отказов, проверки дизайна ИС, проверки надежности устройств на пластине и других задач.

Основные возможности TS3000:

• Широкий диапазон температур: от -60 до 300°C
• Минимальная длина кабелей к измерительным устройствам со специальным интерфейсом для лучшей направленности измерений
• Минимальное расстояние между пластиной и держателем для оптимального измерения mmW и внутренних узлов
• Минимальная занимаемая площадь, благодаря встроенному чиллеру.