0
Криогенный лазерный микроскоп в сильном поле — KMPL-L

Криогенный лазерный микроскоп в сильном поле — KMPL-L

Оптическое разрешение:250 нм
Объективы:5х, 20х, 50х, 100х, немагнитные
Угловое разрешение Керра:0.5 мград (СКО)
Запрос
Итоговая стоимость формируется после выбора конфигурации. Менеджер подберёт оптимальный вариант и назовёт точную цену.
Оптическое разрешение:250 нм
Объективы:5х, 20х, 50х, 100х, немагнитные
Угловое разрешение Керра:0.5 мград (СКО)
Описание
Позволяет проводить высококачественную визуализацию магнитных доменов в образцах при высоких магнитных полях (>1 Тл) и переменных температурах (4.2 К — 420 К). Путём фокусировки лазера на поверхности образца и модуляции/ демодуляции лазерного сигнала выявляет слабые магнитные вариации в микрообластях от 2 мкм.
Идеален для материалов со слабым магнетизмом, малыми размерами, низкой проводимостью, высокими коэрцитивными полями или низкими температурами Кюри. Особенно подходит для изучения двумерных ферромагнитных материалов.

Применение
  • Исследование 2D-материала CrTe при температуре 100 К
  • Сканирование петель гистерезиса лазером в локальных областях 2 мкм
  • Наблюдение магнитного переключения при 4 К с объективом 50х

Название

Значение

Оптическое разрешение

250 нм

Объективы

5х, 20х, 50х, 100х, немагнитные

Угловое разрешение Керра

0.5 мград (СКО)

Лазерное пятно

5 мкм

Поле в плоскости

Водяное охлаждение: 1 Тл при зазоре 18 мм (комн. темп.) 0.75 Тл при зазоре 28 мм (низкая темп.)

Вертикальное поле

Водяное охлаждение: 1.6 Тл при зазоре 10.5 мм (комн. темп.) 1 Тл при зазоре 24 мм (низкая темп.)

Разрешение поля

ПИД, разрешение 0.05 мТл

Диапазон температур

От 4.2 до 420 К

Стабильность температуры

±50 мК

Источник/измеритель

Stanford SR830, Keithley 6221, Keithley 2182A

Расширение

Возможно подключение накачивающего, рамановского и других источников света

Возможность автоматизации с помощью собственного ПО: интеграция, автоматизация измерений, собственные база данных и VISA-мост.

СПОАИ — специальное программное обеспечение для автоматизации измерений, разработанное на мощностях "Акметрон" — отечественного разработчика программного обеспечения, производителя и крупнейшего поставщика оборудования с 2012 года.

Это клиент-серверное приложение с многопользовательской распределённой архитектурой, которое решает задачи повышения производительности труда на производстве, сокращения длительности измерений и снижения требований к квалификации персонала. ПО внесено в реестр Минцифры: №28145

Ключевые преимущества:

  • Полный цикл «под ключ»: от разработки до сопровождения
  • Клиент-серверная архитектура с самостоятельной переналадкой
  • Централизованный сбор и хранение результатов в БД с возможностью миграции в вашу БД
  • Генератор отчетов на основе ваших шаблонов (docx. и xlsx.)
  • Управление приборами с любым типом интерфейса
  • ПО работает на системах Windows, Linux, MacOS, доступна веб-версия

Результаты внедрений:

  • Непрерывная работа в автоматическом режиме до 48 часов
  • До 4 500 измерений за этап
  • Одновременное управление 15+ приборами
  • Автоматизация техтренировки и полной программы испытаний выпускаемых изделий — более 10 контролируемых приборов на одном рабочем месте, до 4 500 автоматизированных измерений в каждом этапе, непрерывная работа в автоматическом режиме 24–48 часов
  • Измерение радиотехнических характеристик приемопередающих модулей
  • Автоматизация тестирования фотонных интегральных схем
  • Контроль и испытания СВЧ-усилителей для космических аппаратов

Для каждого продукта мы предоставляем полный комплект документации: инструкция по установке с пошаговой настройкой, руководство по эксплуатации с описанием требований и рабочих процессов, презентация с обзором возможностей и кейсов внедрения.

Предоставим систему с учётом требований промышленных стандартов и рассчитанную на многолетнюю эксплуатацию. Также мы обеспечиваем соответствие отраслевым требованиям, надёжность архитектуры для критических систем и масштабируемость без потери стабильности.

Наши специалисты помогут вам решить самые сложные задачи по автоматизации, измерениям и интеграции

Рекомендуем посмотреть

ps1d-manu8-img
Ручная зондовая станция на уровне пластины для поля в плоскости — PS1D-MANU8
Совместим с пластинами диаметром до 8 дюймов (200 мм) Размер образца
50 мТл Сила поля
Лучше ±1% в зоне φ 1 мм Однородность поля
ps2dy-ms-img
2D зондовая станция в плоскости и вертикальном магнитном поле — PS2DY-MS
800 мТл при зазоре 12 мм Поле в плоскости
140 мТл Вертикальное поле
Лучше ±1% в зоне φ 1 мм Однородность поля
ps1dx-ms-img
Одноосная зондовая станция в магнитном поле в плоскости — PS1DX-MS
1 Тл при зазоре 20 мм Сила поля
±1% в зоне φ 1 мм Однородность поля
ПИД, разрешение 0.05 мТл Разрешение поля
tim-70-img
Высокоточный вибрационный магнетометр — TIM-70
При комнатной температуре (зазор 3.5 мм): 40 нЭМЕ При переменной температуре: 189 нЭМЕ Уровень шума
Воспроизводимость: ±0.5% Стабильность: ±0.05% (полный диапазон) Магнитный момент
Напряжённость (зазор 10 мм): 2.8 Тл Напряжённость (зазор 3.5 мм): 3 Тл При переменной температуре: 2.4 Тл Разрешение: 1 мкТл Стабильность замкнутого контура: ±10 мкТл Скорость сканирования: 0.5 Тл/с Магнитное поле
minimoke-img
Миниатюрный прибор измерения петель гистерезиса - MINIMOKE
1 мград (СКО) Угловое разрешение Керра
650 мТл при зазоре 6 мм Вертикальное поле
0.05 мТл Разрешение поля
pl-moke-img
Прибор измерения петель гистерезиса для научных исследований PL-MOKE
0.3 мград (СКО) Угловое разрешение Керра
1 Тл при зазоре 8 мм 0.5 Тл при зазоре 16 мм Поле в плоскости
1 Тл при зазоре 7 мм 0.5 Тл при зазоре 16 мм Вертикальное поле
kmpl-pm-img
Микроскоп KEPPA для постоянных магнитов — KMPL-PM
450 нм Оптическое разрешение
5х, 20х, 50х, 100х, высокотемпературный компенсированный 50х, немагнитные Объективы
Магнит с водяным охлаждением: 3 Тл при зазоре 5 мм 2 Тл при зазоре 10 мм Поле в плоскости
kmpl-s-img
Многофункциональный магнето-оптический микроскоп KEPPA — KMPL-S
250 нм Оптическое разрешение
5х, 20х, 50х, 100х, немагнитные Объективы
1 Тл при зазоре 5 мм; 0.5 Тл при зазоре 10 мм; 0.3 Тл при зазоре 16 мм Поле в плоскости

Мы используем файлы cookie

Мы используем cookie для корректной работы сайта, аналитики и улучшения пользовательского опыта. Подробнее об обработке данных — в Политике конфиденциальности.

Настройка cookie

Технические cookie нужны для стабильной работы. Аналитические и другие cookie помогают нам делать сайт лучше для вас: понимать, что вам интересно, и улучшать навигацию. Эти данные анонимны. Разрешая их, вы вносите свой вклад в развитие нашего сайта. Подробности в Политике обработки персональных данных.

Технические Cookie

Эти файлы cookie необходимы для правильной работы сайта и его основных функций (например, навигация, сохранение сессии, работа форм). Без них сайт не сможет функционировать должным образом. Они не собирают информацию для маркетинга или отслеживания. Этот тип cookie нельзя отключить.

Аналитические/Рекламные cookie

Эти файлы cookie позволяют нам собирать информацию о том, как посетители используют наш сайт (например, какие страницы посещают чаще, сколько времени проводят на сайте, возникают ли ошибки). Эта информация собирается в агрегированном или обезличенном виде и используется для анализа и улучшения работы сайта. Данные обрабатываются Яндекс.Метрикой согласно ее политике конфиденциальности (см. сайт Яндекса). Эти cookie активны только с вашего согласия.

Функциональные (остальные) cookie

Эти файлы cookie позволяют сайту запоминать сделанный вами выбор и предоставлять расширенные функции для вашего удобства. Они также могут использоваться для обеспечения работы встроенных на сайт сервисов (например, видеоплееров от Vimeo, виджетов социальных сетей VK), которые улучшают ваш опыт взаимодействия с сайтом. Эти сервисы могут устанавливать свои cookie для корректной работы и запоминания предпочтений. Эти cookie активны только с вашего согласия.

Настройка