0
В наличии

NTEGRA MFM

Специализированная исследовательская станция для глубокого изучения магнитных материалов и устройств спинтроники. Комплекс позволяет не только картировать магнитную структуру поверхности с высоким разрешением, но и наблюдать за динамикой доменов в реальном времени под воздействием внешних управляемых магнитных полей и температур

NTEGRA MFM — это не просто атомно-силовой микроскоп с магнитной насадкой. Это профессиональный инструмент, созданный для решения сложных задач в области физики магнетизма, разработки носителей информации и новых материалов. Прибор позволяет исследователю выйти за рамки пассивного наблюдения и проводить эксперименты по перемагничиванию образцов непосредственно в процессе сканирования.

Ключевые преимущества и возможности:

  • Встроенное магнитное поле: Система оснащена генератором внешнего магнитного поля. Вы можете прикладывать регулируемое поле (как в плоскости образца, так и перпендикулярно ей) прямо во время сканирования, изучая процессы перемагничивания и гистерезиса на уровне отдельных доменов.
  • Вакуумная среда для чистоты сигнала: Поскольку магнитные силы очень слабы, прибор (в стандартной конфигурации) позволяет работать в низком вакууме. Это устраняет демпфирование воздуха, повышает чувствительность кантилевера и позволяет детектировать тончайшие нюансы магнитного рельефа.
  • Температурный контроль: Магнитные свойства сильно зависят от температуры. NTEGRA MFM дает возможность нагревать и охлаждать образец, позволяя исследовать фазовые переходы (например, переходы через точку Кюри) в контролируемых условиях.
  • Комплексный анализ: Помимо магнитно-силовой микроскопии (MFM), прибор поддерживает все стандартные методики АСМ/СТМ, а также специализированные режимы, такие как Кельвин-зондовая микроскопия (KPFM), что важно для разделения электрических и магнитных вкладов в сигнал.

Идеальное решение для задач:

  • Исследование материалов для жестких дисков и магнитной памяти нового поколения (MRAM).
  • Визуализация вихревых структур (скирмионов) и доменных стенок.
  • Фундаментальные исследования наночастиц и мультиферроиков.




подробнее свернуть

Мы используем файлы cookie

Наш сайт использует файлы cookie для аналитики и персонализации. Продолжая использовать сайт после ознакомления с этим сообщением и предоставления своего выбора, вы соглашаетесь с нашей Политикой обработки персональных данных

Настройка cookie

Технические cookie нужны для стабильной работы. Аналитические и другие cookie помогают нам делать сайт лучше для вас: понимать, что вам интересно, и улучшать навигацию. Эти данные анонимны. Разрешая их, вы вносите свой вклад в развитие нашего сайта. Подробности в Политике обработки персональных данных.

Технические Cookie

Эти файлы cookie необходимы для правильной работы сайта и его основных функций (например, навигация, сохранение сессии, работа форм). Без них сайт не сможет функционировать должным образом. Они не собирают информацию для маркетинга или отслеживания. Этот тип cookie нельзя отключить.

Аналитические/Рекламные cookie

Эти файлы cookie позволяют нам собирать информацию о том, как посетители используют наш сайт (например, какие страницы посещают чаще, сколько времени проводят на сайте, возникают ли ошибки). Эта информация собирается в агрегированном или обезличенном виде и используется для анализа и улучшения работы сайта. Данные обрабатываются Яндекс.Метрикой согласно ее политике конфиденциальности (см. сайт Яндекса). Эти cookie активны только с вашего согласия.

Функциональные (остальные) cookie

Эти файлы cookie позволяют сайту запоминать сделанный вами выбор и предоставлять расширенные функции для вашего удобства. Они также могут использоваться для обеспечения работы встроенных на сайт сервисов (например, видеоплееров от Vimeo, виджетов социальных сетей VK), которые улучшают ваш опыт взаимодействия с сайтом. Эти сервисы могут устанавливать свои cookie для корректной работы и запоминания предпочтений. Эти cookie активны только с вашего согласия.

Настройка