Auriga AU-5

Новинка

Auriga AU-5

Импульсная система питания Auriga предназначена для измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ) полупроводниковых компонентов (GaN HEMT, LDMOS, SiC и т.д.) и
интегральных схем на пластине и в корпусе
В наличии

Рисунок2.png

Состав лабораторного стенда:

 - базовый блок импульсной системы питания AU5;

- зонд затвора TPG20;

- зонд стока TPHG220-2;

- многоканальный модульный источник питания N6700C;

- источник питания постоянного тока N5751A (2 шт.);

- цифровой мультиметр 34461A;

- полевой транзистор FLL177ME;

- набор калибровочных мер сопротивлений.

Импульсная система питания состоит из двух источников питания, которые используются для формирования статического и импульсного режимов работы. 

Рисунок3.png

Основные технические характеристики системы:


Калибровка измерительной системы:

Калибровка лабораторной установки осуществляется посредством калибровочных мер с заданными номиналами сопротивлений:


Пример измерений в Лаборатории Акметрон. Электрические характеристики тестируемого устройства:


Семейство выходных статических характеристик тестируемого устройства:



Настройка параметров измерительной системы:

Для проведения измерений выходных статических характеристик исследуемого полевого транзистора FLL177ME используются следующие настройки:

- задержка для импульсов затвора/стока: 5 мкс;

- длительность импульса: 10 мкс;

- частота повторения импульсов: 1 кГц;

- диапазон перестройки входного напряжения: от -2 до 0 В;

- шаг перестройки входного напряжения: 0,1 В;

- диапазон перестройки выходного напряжения: от 0 до 14 В;

- шаг перестройки выходного напряжения: 0,5 В.


Результаты проведенных измерений:



Сравнение результатов измерений в непрерывном и импульсном режимах:



Сравнение результатов измерений в импульсном режиме с выключенным и выключенным состоянием Pre-Pulsed:


Показать большеменьше
Инструкции
Презентации
Характеристика Значение

Похожие товары

Новинка
Auriga AU-5
Auriga AU-5
В наличии
Импульсная система питания Auriga предназначена для измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ) полупроводниковых компонентов (GaN HEMT, LDMOS, SiC и т.д.) и
интегральных схем на пластине и в корпусе

Вы смотрели