MUX EyePoint Сигнатурный анализатор
Устройство для автоматизации входного контроля микросхем и тестирования краевых разъемов печатных плат. Предназначено для коммутирования одного входного канала на любой из выходных каналов в заданной оператором последовательности. Состоит из материнской платы EyePoint MUX_M и подключаемых к ней модулей EyePoint MUX_S_A
Работает совместно с измерителем и специализированной оснасткой.
Описание мультиплексора EyePoint MUX:
- Материнская плата мультиплексора, необходимая для работы модулей EyePoint MUX_S_R. Позволяет подключать до 8 модулей на 64 канала.
- Модуль мультиплексора на 64 канала. Подключение «один ко многим» Позволяет зондировать каждый из 64 каналов по отношению к общему проводу.
Cкалирование модулей коммутации MUX ЦИФ МГУ:
Возможность соединения модулей EyePoint MUX для получения большего количества выходных каналов.
Максимальное количество соединяемых модулей - 8 штук, что дает 512 каналов на выходе.
Совместимость коммутатора MUX EyePoint с анализаторами плат EyePoint:
Тестирование печатных плат:
Введенные в отношении нашей страны санкции вызвали уход практически всех поставщиков электронных компонентов с рынка. Так как закупка новых компонентов стала ограничена, компаниям приходится чинить старые платы. Зачастую за счет отслуживших устройств. Поэтому в ходе ремонта важно не только выявить повреждения, которые нужно устранить, но и убедиться в исправности компонентов, планируемых для монтажа на плату.
Комплексная система на основе EyePoint MUX с помощью метода аналогового сигнатурного анализа позволяет автоматизировать обнаружение поврежденных электронных компонентов, а также выявление возможных неисправностей, таких как разрывы в цепи, непропай, выход их строя защитных диодов, повреждение входных/выходных цепей и т.д.
Благодаря входящему в комплект поставки ПО EPLab Вы получите отчет о выполненном тестировании с полным перечнем обнаруженных дефектов электронных компонентов.
Тестирование микросхем:
Глобальная проблема современности - дефицит полупроводников. Вызванное этим повышение цен на чипы спровоцировало огромный приток контрафакта. Без специального оборудования выявить подделку практически невозможно, а использовать непроверенные микросхемы опасно. Что же делать, чтобы не нести серьезные убытки?
Разработанная в ЦИФ МГУ комплексная система для тестирования микросхем на основе ЕyePoint MUX позволит проверить состояние чипов и выполнить входной контроль, выявляя контрафактные и перемаркированные чипы до того, как они будут использованы в серийном производстве, а входящее в комплект поставки ПО EPLab предоставит отчет о выполненном тестировании.
подробнее
свернуть
- Материнская плата мультиплексора, необходимая для работы модулей EyePoint MUX_S_R. Позволяет подключать до 8 модулей на 64 канала.
- Модуль мультиплексора на 64 канала. Подключение «один ко многим» Позволяет зондировать каждый из 64 каналов по отношению к общему проводу.
Cкалирование модулей коммутации MUX ЦИФ МГУ:
Возможность соединения модулей EyePoint MUX для получения большего количества выходных каналов.
Максимальное количество соединяемых модулей - 8 штук, что дает 512 каналов на выходе.
Совместимость коммутатора MUX EyePoint с анализаторами плат EyePoint:
Тестирование печатных плат:
Введенные в отношении нашей страны санкции вызвали уход практически всех поставщиков электронных компонентов с рынка. Так как закупка новых компонентов стала ограничена, компаниям приходится чинить старые платы. Зачастую за счет отслуживших устройств. Поэтому в ходе ремонта важно не только выявить повреждения, которые нужно устранить, но и убедиться в исправности компонентов, планируемых для монтажа на плату.
Комплексная система на основе EyePoint MUX с помощью метода аналогового сигнатурного анализа позволяет автоматизировать обнаружение поврежденных электронных компонентов, а также выявление возможных неисправностей, таких как разрывы в цепи, непропай, выход их строя защитных диодов, повреждение входных/выходных цепей и т.д.
Благодаря входящему в комплект поставки ПО EPLab Вы получите отчет о выполненном тестировании с полным перечнем обнаруженных дефектов электронных компонентов.
Тестирование микросхем:
Глобальная проблема современности - дефицит полупроводников. Вызванное этим повышение цен на чипы спровоцировало огромный приток контрафакта. Без специального оборудования выявить подделку практически невозможно, а использовать непроверенные микросхемы опасно. Что же делать, чтобы не нести серьезные убытки?
Разработанная в ЦИФ МГУ комплексная система для тестирования микросхем на основе ЕyePoint MUX позволит проверить состояние чипов и выполнить входной контроль, выявляя контрафактные и перемаркированные чипы до того, как они будут использованы в серийном производстве, а входящее в комплект поставки ПО EPLab предоставит отчет о выполненном тестировании.