Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью CIQTEK SEM3300

Основные особенности

• Электронная пушка с вольфрамовой нитью накала
  
• Стабильная работа в широком диапазоне ускоряющих напряжений
  
• Удобная эксплуатация и минимальные требования к обслуживанию
  
• Поддержка стандартных режимов визуализации SE и BSE
  
• Возможность расширения аналитическими модулями
  

Электронно‑оптическая система

• Тип источника электронов: термоэмиссионная пушка с вольфрамовой нитью
  
• Диапазон ускоряющего напряжения: от 0,5 до 30 кВ
  
• Пространственное разрешение:
  • до 3,0 нм при 30 кВ
    
• Электромагнитный объектив с оптимизированной геометрией
  
• Надёжная стабилизация электронного пучка

Возможности визуализации

• Получение изображений во вторичных электронах
  
• Наблюдение контраста по составу в режиме обратно рассеянных электронов
  
• Анализ морфологии, дефектов и микроструктуры поверхности
  
• Подходит для проводящих и слабопроводящих образцов
  

Камера образцов и вакуумная система

• Автоматизированная вакуумная система
  
• Камера образцов с возможностью установки дополнительных детекторов
  
• Быстрая смена образцов через загрузочный шлюз
  
• Поддержка образцов различной формы и размеров

Предметный стол

• Моторизованный предметный столик
  
• Число осей: 5
  
• Диапазоны перемещений:
  • X, Y — до 110 мм
    
  • Z — до 65 мм
    
  • Наклон — от −10° до +70°
    
  • Вращение — 360°
    
• Высокая точность позиционирования

Детекторы и расширение функциональности

Стандартная комплектация:
- Детектор вторичных электронов Эверхарта–Торнли

Опционально:
- Детектор обратно рассеянных электронов (BSE)

- Энергодисперсионный рентгеновский анализ (EDS/EDX)

- Дополнительные навигационные и аналитические модули

Программное обеспечение и управление

• Интуитивно понятный графический интерфейс
  
• Централизованное управление параметрами микроскопа
  
• Автоматические функции:
  • фокусировка;
    
  • коррекция астигматизма;
    
  • автоматическая настройка яркости и контраста
    
• Оптическая навигация по образцу
  
• Операционная система: Windows
  
• Язык интерфейса: английский

Области применения

• контроль качества и промышленная инспекция;
  
• материаловедение и металлография;
  
• анализ порошков и гранулированных материалов;
  
• образовательные и учебные лаборатории;
  
• геология и минералогия;
  
• рутинные научные исследования.