Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью CIQTEK SEM3200

Ключевые преимущества

• Электронная пушка с вольфрамовой нитью накала
  
• Улучшенное качество изображения при низком ускоряющем напряжении
  
• Надёжная электронно‑оптическая система
  
• Поддержка стандартных и аналитических режимов работы
  
• Широкие возможности расширения функциональности

Электронно‑оптическая система

• Тип источника электронов: термоэмиссионная пушка с вольфрамовой нитью
  
• Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами
  
• Диапазон ускоряющего напряжения: от 0,2 до 30 кВ
  
• Пространственное разрешение:
  • до 3,0 нм при 30 кВ
    
• Электромагнитный объектив с оптимизированной геометрией поля
  
• Повышенное отношение сигнал/шум при низких энергиях электронов

Возможности визуализации

• Получение изображений во вторичных электронах
  
• Контраст по составу в режиме обратно рассеянных электронов (опция)
  
• Анализ микрорельефа, дефектов и морфологии поверхности
  
• Подходит для проводящих и слабопроводящих материалов

Камера образцов и вакуумная система

• Автоматизированная вакуумная система
  
• Камера образцов, рассчитанная на установку дополнительных детекторов
  
• Быстрая загрузка и смена образцов
  
• Возможность работы с образцами различной формы и размеров

Предметный стол

• Моторизованный эвцентрический предметный столик
  
• Число осей: 5
  
• Диапазоны перемещений:
  • X, Y — до 110 мм
    
  • Z — до 65 мм
    
  • Наклон — от −10° до +70°
    
  • Вращение — 360°
    
• Высокая точность и повторяемость позиционирования

Детекторы и дополнительные опции

Стандартная комплектация:
- Детектор вторичных электронов Эверхарта–Торнли

Опционально:
- Детектор обратно рассеянных электронов (BSE)

- Энергодисперсионный рентгеновский анализ (EDS/EDX)

- Дополнительные аналитические и навигационные модули

Программное обеспечение и управление

• Удобный графический интерфейс управления
  
• Централизованное управление параметрами микроскопа
  
• Автоматические функции:
  • автофокусировка;
    
  • коррекция астигматизма;
    
  • автоматическая настройка яркости и контраста
    
• Поддержка оптической навигации
  
• Операционная система: Windows
  
• Язык интерфейса: английский

Области применения

• материаловедение и металлография;
  
• контроль качества и промышленная инспекция;
  
• анализ порошков и гранулированных материалов;
  
• образовательные и учебные лаборатории;
  
• геология и минералогия;
  
• рутинные научные и прикладные исследования.