VC20E
VC20E
Проб-карты для моделирования
Под заказ
Предназначены для моделирования, характеризации, параметрических измерений и проверок на надежность отдельных полупроводниковых пластин.
| Характеристика | Значение |
|---|
Похожие товары
Под заказ
Проб-карты для моделирования
Под заказ
Серия проб-карт увеличенного формата
Под заказ
до 3000 В, высокотемпературная система с предотвращением образования электрической дуги
Под заказ
Приспособление для автоматизированной замены пробкарт
Под заказ
серии T40
Под заказ
Серии