Пробкарты серии T40™ совместимы с стандартом 4.5” и имеют низкий уровень шумов, малые токи утечки, широкий диапазон рабочих температур и возможность быстрой установки. Запатентованные керамические держатели пробников позволяют проводить высокоточные измерения в различных условиях. Серия T40™ выполнена в специальном исполнении, при котором даже в случае разрушения конструкции иголки пробников не падают на тестируемые полупроводниковые пластины. Пробкарты T40™ выпускаются для высокотемпературных измерений, для Quasi-Kelvin тестов, и по технологии AttoFast™ для быстрых фемто-амперных измереный.