Анализатор оптических компонентов АКМЕТЕХ 6433
Анализаторы оптических компонентов серии 6433 для комплексной характеризации высокоскоростных оптоэлектронных устройств в диапазоне частот модуляции до 110 ГГц.
Анализаторы серии 6433 представляют собой интегрированное решение для измерения частотных характеристик оптоэлектронных компонентов. Приборы позволяют проводить измерения в четырех режимах (электро-электрическом, электро-оптическом, опто-электрическом и оптико-оптическом), определяя такие параметры, как АЧХ, ФЧХ и групповая задержка. Многооконный интерфейс (до 32 окон, 16 трасс) и набор команд SCPI для удаленного управления обеспечивают удобство анализа и интеграцию в автоматизированные измерительные стенды. Функции исключения влияния оснастки (де-эмбеддинг) и поддержка измерений балансных устройств делают анализатор мощным инструментом для разработки и тестирования современных фотонных компонентов, включая чипы. В качестве опций доступны расширенные функции, такие как рефлектометрия во временной области (TDR) и анализ спектра.
Технические характеристики
Представлены обобщенные характеристики. Параметры зависят от конкретной модели.
-
Диапазон частот модуляции:
10 МГц – 20 / 43.5 / 50 / 67 / 110 ГГц. -
Разрешение по частоте:
1 Гц. -
Рабочие длины волн (встроен. источник):
1310±10 нм, 1550±10 нм. -
Измеряемые параметры:
Амплитудно-частотная характеристика (АЧХ), фазо-частотная характеристика (ФЧХ), групповая задержка, S-параметры. -
Относительная погрешность АЧХ:
до ±2.7 дБ (для модели 110 ГГц). -
Режимы измерения:
Электрооптический (Э/О), оптоэлектронный (О/Э), оптико-оптический (О/О), электро-электрический (Э/Э). -
Опциональные возможности:
Четырехпортовые измерения, рефлектометрия (TDR), анализ спектра, непрерывная быстрая перестройка по длине волны. -
Габаритные размеры (Ш × В × Г):
Основной блок: 475×525×660 мм; Модуль расширения: 97×73×236 мм (для модели 110 ГГц). -
Масса:
до 80 кг.
Применение
Анализ передающих устройств (Э/О):
Определение ключевых динамических характеристик передающих устройств: измерение полосы пропускания (3 дБ), АЧХ/ФЧХ и групповой задержки. Типовые тестируемые устройства: электрооптические модуляторы, лазеры с прямой модуляцией (DML), трансимпедансные усилители (TIA) и передающие оптические сборки (TOSA).Анализ приёмных устройств (О/Э):
Комплексная характеризация высокоскоростных приёмных устройств, таких как PIN и лавинные (APD) фотодетекторы, а также приёмные оптические сборки (ROSA). Анализируется их частотный отклик для определения полосы пропускания и других параметров.Анализ пассивных и активных оптических компонентов (О/О):
Измерение частотной зависимости коэффициента передачи для пассивных устройств (фильтры, мультиплексоры), а также характеристик оптических усилителей (EDFA).Тестирование фотонных интегральных схем (PIC):
Благодаря функции исключения влияния оснастки (де-эмбеддинг), анализатор обеспечивает высокую точность измерений параметров фотонных интегральных схем (PIC) непосредственно на кристалле при помощи зондовых станций.Автоматизированное тестирование:
Наличие интерфейсов LAN/USB и набора команд SCPI позволяет интегрировать анализатор в автоматизированные производственные линии для потокового тестирования и контроля качества компонентов.Инструкции
| Характеристика | Значение |
|---|