Заказать звонок
×

Отправляя сведения через электронную форму, вы даете согласие на обработку, сбор, хранение и передачу третьим лицам представленной Вами информации на условиях Политики конфиденциальности.

Меню
Москва
  • Казань
  • Ростов-на-Дону
  • Санкт-Петербург
+7(495) 252-00-96
Главная /Новости/Х – параметры

Х – параметры

cal Август, 2016


Специалистами компаний АО «Акметрон» и АО «Всероссийский НИИ радиотехники» была проведена серия измерений Х - параметров мощного СВЧ усилителя S – диапазона на LDMOS – транзисторе компании NXP Semiconductors. 


X-параметры представляют собой математически точное расширение S-параметров для больших сигналов. На основе этих параметров испытываемое устройство можно представить в виде «черного ящика», коэффициенты которого определяются на основе простого набора физических измерений параметров этого устройства. X-параметры позволяют рассматривать испытываемое устройство как «черный ящик» с полностью нелинейными характеристиками, у которого измеряются амплитуда и фаза для основной частоты и гармоник. В процессе моделирования «черные ящики» можно каскадировать для точного определения поведения компонентов при отсутствии согласования.


Тестовая установка включала в себя векторный анализатор цепей PNA – X с программным обеспечением нелинейного векторного анализа (NVNA) компании Keysight Technologies, тюнер импеданса компании Maury Microwave с программным обеспечением IVCAD и внешние СВЧ компоненты. Выходная мощность тестируемых усилителей составляла 40 Вт в импульсном режиме со скважностью 5. В измерениях применялась процедура Load pull, представляющая из себя перебор значений импеданса нагрузки в заданном диапазоне на диаграмме Вольперта - Смита. Load pull позволяет находить оптимальные импедансы нагрузки для получения требуемых характеристик усилителя мощности (выходная мощность, КПД и др). Измерение происходило до 3-ей гармоники включительно. Задавался диапазон входных мощностей от 20 дБм до 33 дБм с шагом 1 дБ.

В результате измерений был получен файл Х – параметров. Этот файл используется в САПР Keysight ADS для последующего компьютерного моделирования, позволяя разрабатывать модели активных устройств с учетом их нелинейных характеристик и с возможностью каскадирования. Также опубликована статья «Методика измерений Х – параметров мощного СВЧ усилителя S – диапазона» в сборнике Пятой всероссийской конференции «Электроника и микроэлектроника СВЧ» Том 1, стр. 42 – 45.